Ementa

  • Introdução à cristalografia:
    • Lei de Bragg;
    • Cela unitária e índices de Miller;
    • Rede cristalina (e tipos de celas unitárias);
    • Elementos de simetria e grupos espaciais: Interpretação do símbolo do grupo espacial;
    • Multiplicidade de um sítio e fator de ocupação (DBWS, GSAS, TOPAS);
    • Fator de estrutura, intensidade de uma reflexão e equação para simular um difratograma;
    • Diferenças entre raios X e nêutrons;
    • Como fazer identificação de fases (programas JSTDRX e search-match);
    • Banco de dados: ICDD, ICSD, COD, entre outros);
  • Método de mínimos-quadrados . Aqui e aqui.
  • Método de mínimos-quadrados aplicado ao método de Rietveld.  Aqui e aqui.
  • Estratégias de coleta de dados.
  • Indexação de padrões de difração.
  • Determinação de estruturas cristalinas. Aqui
  • Refinamento de estruturas cristalinas com dados de difração de raios X e/ou de nêutrons por policristais.
  • Análise quantitativa de fases. Aqui
  • Determinação de tamanho de cristalito e microdeformação. Aquiaqui e aqui
  • Identificação e quantificação de polimorfos de orgânicos. Aquiaquiaquiaqui e aqui
  • Correlação entre deslocamentos atômicos e rugosidade superficial. Aqui

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